近期全新推出SPECTROCUBE型X射線貴金屬測(cè)試儀器，采用高分辨、高計(jì)數(shù)檢測(cè)器技術(shù)，縮短了樣品的測(cè)量間隔，儀器軟件直觀、簡(jiǎn)捷，測(cè)試流程輕松流暢，大大減少了宕機(jī)時(shí)間。

  貴金屬分析

  SPECTROCUBE型X射線貴金屬測(cè)試儀器作為新儀器的推出，為測(cè)試中心、純度標(biāo)識(shí)和分析實(shí)驗(yàn)室，以及珠寶制造商提供了簡(jiǎn)單、可靠、準(zhǔn)確、高通量的分析手段。其分析速度是同類儀器的兩倍。

  同類產(chǎn)品中測(cè)試速度：是典型測(cè)試速度的兩倍，高精度分析僅需15秒

  分析范圍寬和準(zhǔn)確性高：一次分析，同時(shí)檢定30多種元素, 包括痕量元素

  整機(jī)的易用性：只需簡(jiǎn)單的三步，即可得到精確的、完美的全分析結(jié)果

  設(shè)計(jì)緊湊、操作簡(jiǎn)便

  SPECTROCUBE型X射線貴金屬測(cè)試儀所采用的測(cè)試流程快捷、平順，只需接受簡(jiǎn)單的培訓(xùn)即可流暢準(zhǔn)確地操作儀器，顯示了的易用性。檢測(cè)所需的相關(guān)信息直觀地顯示在同一屏幕上，只需三個(gè)簡(jiǎn)單步驟即可實(shí)現(xiàn)樣品的全分析。

  緊湊的設(shè)計(jì)減少了儀器的占地面積，可放置在狹小的工作空間里。但樣品室非常寬大，可接納范圍廣泛、大小不同的樣品。對(duì)于大多數(shù)分析來說，SPECTROCUBE僅需一次校準(zhǔn)，即可達(dá)到貴金屬分析所需的準(zhǔn)確度。

  的分析速度

  的分析速度和性能是SPECTROCUBE核心競(jìng)爭(zhēng)力的體現(xiàn)。SPECTROCUBE的校正曲線高精度地覆蓋寬廣的濃度范圍，加之標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試時(shí)間低至15秒，因此每天可處理數(shù)以百計(jì)的樣品。對(duì)于形狀不同、大小不一珠寶樣品，該儀器可使用0.2毫米的焦斑進(jìn)行微區(qū)分析，該焦斑是行業(yè)中小的焦斑尺寸之一。

  SPECTROCUBE由久經(jīng)錘煉、精心挑選的部件組裝、制造而成。可在嚴(yán)苛的質(zhì)量體系中實(shí)現(xiàn)高通量、低故障、全天候連續(xù)使用，具有令人信服的可靠性，在整個(gè)儀器的生命周期內(nèi)可顯著降低操作、維護(hù)成本，以及持有成本。

  與許多其他XRF分析儀不同，SPECTROCUBE采用了全新的高分辨硅漂移檢測(cè)器（SDD），可檢測(cè)記錄到少量和微量“非貴”的雜質(zhì)元素成分。與上一代XRF貴金屬檢測(cè)儀相比，在同等測(cè)量時(shí)間內(nèi)SPECTROCUBE所記錄的信號(hào)強(qiáng)度是前一代機(jī)型的三倍。